|
 |
 |
IR spektrinė mikroskopija Tyrimai atliekami FTIR spektrometru Vertex 70 su Mikroskopu Hyperion 3000 (Bruker)
Prietaiso darbinė sritis 500 – 5000 cm-1 (20-2 μm )
Matavimo metodai: pralaidumo (optinio tankio), atspindžio, pažeisto vidaus atspindžio (ATR)
Spektrinė skyra ≥0,5 cm-1
Bandinio temperatūra gali būti keičiama 80 – 300 K intervale
Galimybė tirti itin mažus bandinius erdvine skyra iki 25 μm
Galimybė registruoti bandinio spektrinius žemėlapius panaudojant jutikliu matricą (FPA)
Bandiniai: kietieji kūnai, skysčiai, dujos, plonos plėvelės, biologiniai bandiniai.
|